— 金屬分析歷史意義上的革命
40多年來，SPECTRO全心投入開發(fā)出世界先進的發(fā)射光譜儀。今天，斯派克公司引入CMOS探測器技術，改變了電弧/火花分析技術的走向及未來。在所有同類分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，低元素檢測限，同時也可以提供超長的正常運行時間和非常具有前瞻性的靈活性。
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德國SPECTRUMA公司成立于1980年，是一家專注于生產分析儀器的高技術公司。公司技術團隊在研發(fā)、生產制造和服務領域具有40年以上的豐富經驗，迄今為止，在他們的努下，已開發(fā)生產出第三代面向未來的輝光放電光譜儀。
輝光放電分析（GDA）于1968年的出現(xiàn)，起初用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長于表面和涂層分析。與其他傳統(tǒng)的分析手段相比，輝光放電光譜技術更令人滿意的是它的表面涂鍍層中化學元素含量分析的能力。
在金屬分析領域，GDA是一種深度-含量和表面分析手段，表面涂鍍層和表面處理樣品可以得到測試，涂鍍層的厚度、化學元素含量均可以準確檢測。
應用范圍：
- 適用于質量控制和材料研究
- 在金屬分析領域中，輝光放電分析是濃度分析和表面分析的手段。
- 表面處理工藝過程，如表面滲碳硬化或滲碳熱處理等，都可以通過分析被處理材料的表面和近表層區(qū)域實現(xiàn)質量控制。
- 采用濃度分布分析功能可以測量涂（鍍）層厚度及化學成分。
- 對于傳統(tǒng)的分析方法不能解決的材料分析問題，輝光放電光譜技術可以作為優(yōu)先選用的方法。
技術參數：
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德國SPECTRUMA公司成立于1980年，是一家專注于生產分析儀器的高技術公司。公司技術團隊在研發(fā)、生產制造和服務領域具有40年以上的豐富經驗，迄今為止，在他們的努下，已開發(fā)生產出第三代面向未來的輝光放電光譜儀。
輝光放電分析（GDA）于1968年出現(xiàn)，起初用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長于表面和涂層分析。與其他傳統(tǒng)的分析手段相比，輝光放電光譜技術令人滿意的是它的表面涂鍍層中化學元素含量分析的能力。
在金屬分析領域，GDA是一種深度-含量和表面分析手段，表面涂鍍層和表面處理樣品可以得到準確測試，涂鍍層的厚度、化學元素含量均可以準確檢測。
應用范圍：
適用于質量控制和材料研究
在金屬分析領域中，輝光放電分析是濃度分析和表面分析的手段。
表面處理工藝過程，如表面滲碳硬化或滲碳熱處理等，都可以通過分析被處理材料的表面和近表層區(qū)域實現(xiàn)質量控制。
采用濃度分布分析功能可以準確地測量涂（鍍）層厚度及化學成分。
對于傳統(tǒng)的分析方法不能解決的材料分析問題，輝光放電光譜技術可以作為優(yōu)先選用的方法。
技術參數：
德國SPECTRUMA公司成立于1980年，是一家專注于生產分析儀器的高技術公司。公司技術團隊在研發(fā)、生產制造和服務領域具有40年以上的豐富經驗，迄今為止，在他們的努下，已開發(fā)生產出第三代面向未來的輝光放電光譜儀。
輝光放電分析（GDA）于1968年出現(xiàn)，起初用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長于表面和涂層分析。與其他傳統(tǒng)的分析手段相比，輝光放電光譜技術令人滿意的是它的表面涂鍍層中化學元素含量分析的能力。
在金屬分析領域，GDA是一種深度-含量和表面分析手段，表面涂鍍層和表面處理樣品可以得到準確測試，涂鍍層的厚度、化學元素含量均可以準確檢測。
應用范圍：
- 適用于質量控制和材料研究
- 在金屬分析領域中，輝光放電分析是濃度分析和表面分析的手段。
- 表面處理工藝過程，如表面滲碳硬化或滲碳熱處理等，都可以通過分析被處理材料的表面和近表層區(qū)域實現(xiàn)質量控制。
- 采用濃度分布分析功能可以準確地測量涂（鍍）層厚度及化學成分。
- 對于傳統(tǒng)的分析方法不能解決的材料分析問題，輝光放電光譜技術可以作為優(yōu)先選用的方法。
技術參數：
德國SPECTRUMA公司成立于1980年，是一家專注于生產分析儀器的高技術公司。公司技術團隊在研發(fā)、生產制造和服務領域具有40年以上的豐富經驗，迄今為止，在他們的努下，已開發(fā)生產出第三代面向未來的輝光放電光譜儀。
輝光放電分析（GDA）于1968年出現(xiàn)，起初用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長于表面和涂層分析。與其他傳統(tǒng)的分析手段相比，輝光放電光譜技術令人滿意的是它的表面涂鍍層中化學元素含量分析的能力。
在金屬分析領域，GDA是一種深度–含量和表面分析手段，表面涂鍍層和表面處理樣品可以得到測試，涂鍍層的厚度、化學元素含量均可以準確檢測。
應用范圍
適用于質量控制和材料研究
在金屬分析領域中，輝光放電分析是濃度分析和表面分析的手段。
表面處理工藝過程，如表面滲碳硬化或滲碳熱處理等，都可以通過分析被處理材料的表面和近表層區(qū)域實現(xiàn)質量控制。
采用濃度分布分析功能可以準確地測量涂（鍍）層厚度及化學成分。
對于傳統(tǒng)的分析方法不能解決的材料分析問題，輝光放電光譜技術可以作為優(yōu)先選用的方法。
技術參數
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德國SPECTRUMA公司成立于1980年，是一家專注于生產分析儀器的高技術公司。公司技術團隊在研發(fā)、生產制造和服務領域具有40年以上的豐富經驗，迄今為止，在他們的努下，已開發(fā)生產出第三代面向未來的輝光放電光譜儀。
輝光放電分析（GDA）于1968年出現(xiàn)，起初用于各種塊狀金屬和合金的光譜化學分析。這種分析方法不斷地發(fā)展，尤其擅長于表面和涂層分析。與其他傳統(tǒng)的分析手段相比，輝光放電光譜技術令人滿意的是它的表面涂鍍層中化學元素含量分析的能力。
在金屬分析領域，GDA是一種深度-含量和表面分析手段，表面涂鍍層和表面處理樣品可以得到準確測試，涂鍍層的厚度、化學元素含量均可以準確檢測。
應用領域
- 汽車制造及零部件
- 金屬加工、制造
- 冶金
- 航空、航天
- 電子工業(yè)
- 玻璃、陶瓷
- 表面處理：化學氣相沉積、物理氣相沉積等
- 電鍍
- 光伏電池、鋰電
- 科學研究
應用范圍
- 適用于質量控制和材料研究
- 在金屬分析領域中，輝光放電分析是濃度分析和表面分析的手段。
- 熱處理工藝中，如表面滲碳硬化或滲碳熱處理等，都可以通過分析被處理材料的表面和近表層區(qū)域，準確測量所關心元素的含量-深度分布，定性、定量檢測表面污染物、夾雜物和物相比例。
- 采用濃度分布分析功能可以測量涂（鍍）層厚度及化學成分。
- 對于傳統(tǒng)的分析方法不能解決的材料分析問題，輝光放電光譜技術可以作為優(yōu)先選用的方法。
- 采用可選的射頻光源（RF，GDA750輝光放電光譜儀）可以分析非導體材料和涂層，如玻璃，陶瓷，釉質和油漆涂層。
- 檢測太陽能光伏電池薄膜中化學元素含量分布，如：Cu (In,Ga) Se2
主要特點
- GDA750可以配備60個以上的分析通道，并且能充分地滿足分辨率和分析要求。
- 涂（鍍）層材料和均相材料化學成分、痕量和微量合金元素的檢測。
- 化學成分可以與其他特性，如被分析區(qū)域中的密度和質量分布同時測定。
- 濃度分布測定和表層測量數據的定性/定量評價
- 測定被分析表面層內部的相/相比
- 涂（鍍）層的深度可測量至200um。
- 表面分析和獲得的分辨率達1個原子層。
- 通過比較涂（鍍）層工藝過程（CVD，PVD）前后的表面特性，確保生產工藝過程避免廢品浪費。
- GDA750也可用于塊狀樣品的分析（如金屬合金的化學成分），為復雜基體材料的分析提供具有良好線性的工作曲線。
- 軟件基于Windows 2000環(huán)境，日常分析功能采用易用的軟件界面，使用戶能很快地熟悉儀器的使用。
- 具有許多適于用戶的軟件功能選項，如顯示輸出、數據傳輸和數據格式。
技術參數
高性能，高可靠性
SPECTROCHECK 是專門設計的直讀光譜儀，以滿足中小鑄造廠和機械加工企業(yè)對于緊縮預算采購高性能光譜儀的需求。
SPECTROCHECK 設計制造理念秉承德國制造的高質量，高性能和高可靠性。具備可靠數據的長久保證。
這一款高質量，緊湊型，買得起的光譜儀生來用于分析鋼鐵，鋁合金和銅合金中的元素含量。使用SPECTROCHECK的公司可以確保為其用戶提供經過嚴格成分檢測的高質量的金屬材料。
從沒有一款光譜儀給以如此低的價格提供這么高的性能保證。很低的使用維護成本來自于ICAL智能標準化大大降低再校準費用和時間；用僅為需要的插件式功能模塊付費。毫無疑問SPECTROCHECK是較高性價比的光譜儀。
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第九代SPECTROMAXx直讀光譜儀
? ? ? —? 新一代的改進引領了超可靠性能
概述
●? 簡便的單樣本標準化 — 基于斯派克的智能校準邏輯（iCAL） — 無論大多數溫度變化，平均每天節(jié)省30分鐘
● 與以前的型號相比，在待機期間減少了多達64%的氬氣消耗
● 能夠分析氫和氧的擴展波長范圍（例如：鈦基）
● 適用于鑄造廠材料進出和過程控制（包括氮）的常規(guī)分析和精確分析 — 包括10種基體、65種方法和56種元素，運行成本低，維護需求少
SPECTROMAXx直讀光譜儀主要用于世界各地鑄造廠的材料測試，以及金屬行業(yè)的進出廠檢驗。該設備能鑒別金屬行業(yè)使用的所有元素，包括碳、磷、硫和氮的金屬分析。
SPECTROMAXx電弧火花OES金屬分析儀顯著降低了運行成本，明顯縮短了測量時間，減少了維護需求——同時依然兼?zhèn)淞己玫臏蚀_性和穩(wěn)定性。在效率方面，新型SPECTROMAXx設定了新的基準。
從來料到過程測試，再到成品出廠質量檢驗，金屬生產和制造廠都需要先進的元素分析。十多年來，有一種儀器-SPECTROMAXx一直在踐行例行地實現(xiàn)這一目標。
憑借其一如既往的可靠性記錄，SPECTROMAXx直讀光譜儀成為業(yè)界暢銷的電弧/火花光發(fā)射光譜（OES）分析儀。其快速、準確、經濟有效的測量方法為全球關鍵供應鏈增加了必要的確定性。
如同前幾代光譜儀，第九代SPECTROMAXx具有良好的分析速度。用戶可以獲得快的信息，并能對不斷變化的工藝條件做出快速反應。它還能大幅降低運行成本、低耗材、先進的診斷和易于維護，從而提高可用性和避免停機造成昂貴的時間成本。
它具有真正直觀的操作，使用工具條按鈕，擁有用戶管理系統(tǒng)，并將操作與編程清晰地分離。測量由清晰的圖標和工具條按鈕控制。一旦開始某個工作流程，控制軟件中僅當時符合邏輯的的功能可用——所有其它指令均被隱藏。通過新的應用配置，客戶定制信息能在開始操作前設定，減輕了實驗室技術人員的管理負擔。
SPECTROMAXx電弧/火花OES金屬分析儀獨立監(jiān)測所有運行參數。它根據給定樣本的特性動態(tài)確定測量時間，甚至根據正在檢驗的樣本類型顯示何時需要清潔火花臺?？蛇x的AMECARE M2M（機對機）支持直接連接遠程斯派克服務專家電腦并提供主動警報。
結構
技術參數
光學系統(tǒng)
- 高分辨率檢測器
- 光學系統(tǒng)不受溫度變化影響
- 自動描跡
分析模式
- 自由選擇分析模式
- 根據應用需求優(yōu)化參數
- 用戶現(xiàn)場可升級擴展
火花臺
- 開放式火花臺，大樣品量輸出，適于分析不同幾何形狀的大樣品。
- 氬氣節(jié)約模式降低氬氣消耗量
- 優(yōu)化氬氣流向
- 減少清理維護
- 易于更換火花臺板熱交換設計，無須水冷
- 集成火花觀測快門，優(yōu)化觀測溫度區(qū)域
激發(fā)光源
- 全數字等離子發(fā)生器光源。數字放電參數設定,數字脈沖發(fā)生器,數字離線脈沖控制
- 32MHz微處理器控制
- 能量分辨率: 0.5微秒步長125毫瓦
讀出系統(tǒng)
- 高速12位ADc模數轉換
- 66 MHZ DSP數字信號控制
- 串行源接口
計算機系統(tǒng)
- 外置計算機, Windows操作系
- 鍵盤和鼠標
- 顯示器
- 打印機
軟件
- 分析操作和校正用的 SPECTRO Spark analyzer pro軟件包
- 實時顯示連續(xù)自動硬件診斷
- 自動合金類型別
- 數據管理軟件包
- 在線維護日程安排程序
環(huán)境要求
- 相對濕度：<80%RH
- 光譜環(huán)境：無腐蝕性氣體和高灰塵污染
電源參數
- 230V+10-15%，50Hz
- 16A慢熔保險
SPECTRO ARCOS等離子體發(fā)射光譜儀
SPECTRO的密封充氣紫外光學系統(tǒng)，全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術，高靈敏度、高精度以及波長范圍寬。 全波長覆蓋，130~770nm的波長范圍?？梢苑治鳆u素（Cl、Br、I）的ICP。
應用領域
廣泛地應用于科研、冶金、機械、石化、環(huán)保、食品、地質、生化等行業(yè)中復雜的元素分析。
性能特點
1.波長范圍：130－770nm。
2.開機即可測試，節(jié)約成本，節(jié)約時間。密閉充氬循環(huán)光路系統(tǒng)，檢測190nm以下譜線，無需氣體吹掃。檢測器無需超低溫冷卻，無需氬氣吹?? 掃保護。
3.分析速度快，3秒實現(xiàn)全譜數據采集。可在30秒內完成73個元素的全譜定量測試，分析速度:≥60個樣品/小時。
4.自動化程度高，所有氣體流量采用質量流量計計算機控制，矩管位置3維步進馬達計算機控制。
SPECTROBLUE等離子體發(fā)射光譜儀
SPECTROBLUE是德國斯派克分析儀器公司新推出的電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀（ICP-OES），它結構緊湊、光譜范圍通用、操作便易、維護簡單而實用；750mm焦距的帕邢-龍格光學系統(tǒng)與15個線性CCD陣列檢測器，使其具有優(yōu)越的光學分辨率和靈敏度；創(chuàng)新性的采用UV-PLUS氣體凈化技術，免除了高純氣體吹掃的耗費，確保遠紫外譜區(qū)的高傳輸效率和優(yōu)異的長時間穩(wěn)定性。功率強大、長期穩(wěn)定、久經耐用的RF發(fā)生器使其能勝任等離子體負荷，而大功率陶瓷管與ICP所產生的熱量通過全新的空冷方式進行冷卻，不再需要昂貴的外部水冷裝置。此外，SPECTROBLUE 裝配了SPECTRO的 SMART ANALYZER VISION智能分析軟件， 提供了簡單靈活而強大的用戶界面，軟件易學易用，而儀器操作簡單、分析能力強。
SPECTRO BLUE是分析大樣品量的水、廢水、土壤、污泥、植物及飼料樣品的選擇，也是測量金屬、貴金屬及非金屬材料等高樣品量分析用戶的理想選擇。SPECTROBLUE的RF發(fā)生器具有功率強大、長期穩(wěn)定、經久耐用的性能。而大功率陶瓷管與ICP所產生的熱量通過全新的空冷方式進行冷卻，不再需要昂貴的外部水冷裝置。
應用領域
SPECTRO BLUE廣泛地應用于科研、冶金、機械、石化、環(huán)保、食品、地質、生化等行業(yè)中復雜的元素分析，是分析大樣品量的水、廢水、土壤、污泥、植物及飼料樣品的很好選擇，也是測量金屬、貴金屬及非金屬材料等高樣品量分析用戶的理想選擇。
性能特點
1．波長范圍：165－770nm，無需配備冷卻循環(huán)水機，節(jié)約成本，節(jié)省空間。
2．開機即可測試，節(jié)約成本，節(jié)約時間。密閉充氬循環(huán)光路系統(tǒng)，檢測190nm以下譜線，無需氣體吹掃。檢測器無需超低溫冷卻，無需氬氣吹掃保護。
3．分析速度快，可在30秒內完成73個元素的全譜定量測試，速度:≥60個樣品/小時。
4．自動化程度高，所有氣體流量采用質量流量計計算機控制，矩管位置3維步進馬達計算機控制。
5．配備斯派克專有的SMART ANALYZER VISION智能分析軟件，憑借其高度適應性的接口，該軟件使得它的所有用戶很容易采取充公利用儀器操作簡單和獨特的分析能力。
SPECTRO GENESIS是一種可以以低成本替代順序型ICP和原子吸收光譜儀的分析儀器，它可以使毫無ICP使用經驗的人員充分享受該儀器所帶來的便利，以強大的功能、很低的運行成本完成測試工作。
SPECTRO GENESIS 配備有出廠前已校正好的、適用于環(huán)保及其它行業(yè)的方法軟件包的等離子光譜儀(ICP)。實現(xiàn)“即插即用”，用戶無需再創(chuàng)建相應的方法。這些方法均可直接使用無需任何準備工作。這些工廠預制的分析方法覆蓋了環(huán)境和工業(yè)領域的所有應用，如：水、廢水、工業(yè)廢水、土壤、淤泥、粉塵、油中的磨損金屬和油中的添加劑。按照國家和國際標準及規(guī)范的要求，整機出廠時就已經包含相應的進樣系統(tǒng)、樣品制備方法和儀器的操作規(guī)程。同時還配備附件包，以擴展SPECTRO GENESIS的應用范圍。
應用范圍
廣泛應用于環(huán)境分析和工業(yè)實驗室分析，如水/廢水，土壤，泥污，濾渣等的分析。
主要特點
價位和順序等離子體光譜儀（ICP）或原子吸收光譜儀相媲美的全譜等離子體發(fā)射光譜儀，經濟實用針對環(huán)保和工業(yè)應用用戶開發(fā)，按照國際EPA標準預先設置，簡化安裝和培訓要。
儀器體積小，重量輕，適合放置到任何實驗臺上鋁質外殼緊湊牢固，而且便于更換所有部件，耐化學腐蝕的表面和便于維修更換部件的側面開門進樣系統(tǒng)的樣品流程短，縮短了分析時間和沖洗時間激發(fā)光源采用計算機控制的，運行頻率27.12MHx，輸出功率0.7–1.7KW的發(fā)生器。它具有自動等離子體激發(fā)和待機運行模式等特點，可節(jié)省能耗和氬氣耗量。適應樣品種類的連續(xù)變換，可確保對多種樣品甚至快速更換樣品時始終具有穩(wěn)定，有效的等離子體能量。
光學系統(tǒng)通過SPECTRO公司的光學等離子體接口（OPL）與等離子體相連接，覆蓋波長范圍175–777nm.采用15塊排列的CCD作為檢測器，動態(tài)范圍達到8個數量級
ICAL智能邏輯校正系統(tǒng)，使儀器使用更為簡便?？勺詣颖O(jiān)測和記錄儀器的所有功能。如果檢測到系統(tǒng)性能有所變化而且即使是經驗豐富的操作都 未覺察到的變化，系統(tǒng)都會自動請求：智能邏輯校正。例如：單控制樣品的測定。這樣就可以確保儀器始終在穩(wěn)定狀態(tài)下運行。降低了對操作者決策能力的要求。也避免了以往由于對單個方法進行標準化而浪費時間。
SPECTRO ANALYZER? VISION軟件操作簡單、具有“向導”功能，并存儲數據、信息、分析結果在ODBC兼容的數據庫里，可和LIMS系統(tǒng)結合使用使用。每次分析的全套譜圖都自動儲存。具有分析再處理能力，而且還可以在將來根據需要調節(jié)方法參數，如：元素和譜線選擇等。
]]>SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀
SPECTRO XEPOS 臺式偏振X射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴展的偏振光學系統(tǒng)使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析。從X射線管中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學系統(tǒng)進行轉換，得到的完全偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。
SPECTRO XEPOS可廣泛地應用于石油、化工、冶金、礦業(yè)、制藥、食品、環(huán)保、地質、建材、廢物處理以及再加工工業(yè)等。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS，在氦氣保護狀態(tài)下，在300秒鐘之內，對于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的檢測下限在1-7μg/g以上。
XEPOS型X射線熒光光譜儀還可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應對ELV、WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標準等。
產品特點
SPECTRO XEPOS采用端窗鈀靶50W射線管?？裳b8個偏振靶和次級靶， 可設定各種不同的激發(fā)條件，以確保對從Na到U的元素進行準確測定。
光閘系統(tǒng)可以確保在更換樣品時無需關閉光管，從而提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
SPECTRO XEPOS采用先進的硅漂移檢測器（SDD）。無論計數率如何變化，分辨率均保持一致。特別設計的準直器可改善信噪比。光譜分辨率小于160eV（以Mn ka線計）。計數率可達到120,000cps。在高計數率下仍有較高的分辨率，可縮短分析時間、提高分析準確度。
SPECTRO XEPOS獨特的分析性能不僅取決于它采用了功能強大的分析部件及先進的偏振技術，而且還取決于其進樣設計。德國斯派克分析儀器公司在開發(fā) SPECTRO XEPOS時就專門考慮到進樣的問題。高精度樣品交換器、新型樣品盤的采用可大大減少機械和物力波動對測定的影響，改善分析結果。儀器配備樣品旋轉裝置，可進一步改善測定不均勻樣品以及表面不平整樣品的分析結果。
SPECTRO XEPOS軟件提供了一個簡單明了、使用簡便的操作界面。選定方法，輸入樣品識別信息，即可進行測定。通過完備的引導程序，操作者只需通過5個簡單步驟即可創(chuàng)建新的分析方法。采用基本參數法PF或采用專門的SPECTRO TurboQuant軟件，可輕而易舉的完成未知樣品的分析。SPECTRO XEPOS可搭載預制的應用軟件包。該應用軟件包括一套在出廠前就安裝和校正好的硬件和分析方法。適用于分析ROHS，廢渣，垃圾，油，水泥，爐渣等，SPECTRO XEPOS一機多用，是實至名歸的多功能分析儀器。