SPECTRO XEPOS 偏振X射線熒光光譜儀

SPECTRO XEPOS 臺式偏振X射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴展的偏振光學系統(tǒng)使用50W低能量的X射線管作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析。從X射線管中發(fā)出的原始X射線通過高通量偏振光學系統(tǒng)進行轉(zhuǎn)換，得到的完全偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。

SPECTRO XEPOS可廣泛地應用于石油、化工、冶金、礦業(yè)、制藥、食品、環(huán)保、地質(zhì)、建材、廢物處理以及再加工工業(yè)等。以油中各種元素的分析為例。使用SPECTO XEPOS，在氦氣保護狀態(tài)下，在300秒鐘之內(nèi)，對于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的檢測下限在1-7μg/g以上。

XEPOS型X射線熒光光譜儀還可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應對ELV、WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標準等。

產(chǎn)品特點

SPECTRO XEPOS采用端窗鈀靶50W射線管?？裳b8個偏振靶和次級靶， 可設定各種不同的激發(fā)條件，以確保對從Na到U的元素進行準確測定。

光閘系統(tǒng)可以確保在更換樣品時無需關閉光管，從而提高了系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

SPECTRO XEPOS采用先進的硅漂移檢測器（SDD）。無論計數(shù)率如何變化，分辨率均保持一致。特別設計的準直器可改善信噪比。光譜分辨率小于160eV（以Mn ka線計）。計數(shù)率可達到120,000cps。在高計數(shù)率下仍有較高的分辨率，可縮短分析時間、提高分析準確度。

SPECTRO XEPOS獨特的分析性能不僅取決于它采用了功能強大的分析部件及先進的偏振技術，而且還取決于其進樣設計。德國斯派克分析儀器公司在開發(fā) SPECTRO XEPOS時就專門考慮到進樣的問題。高精度樣品交換器、新型樣品盤的采用可大大減少機械和物力波動對測定的影響，改善分析結(jié)果。儀器配備樣品旋轉(zhuǎn)裝置，可進一步改善測定不均勻樣品以及表面不平整樣品的分析結(jié)果。

SPECTRO XEPOS軟件提供了一個簡單明了、使用簡便的操作界面。選定方法，輸入樣品識別信息，即可進行測定。通過完備的引導程序，操作者只需通過5個簡單步驟即可創(chuàng)建新的分析方法。采用基本參數(shù)法PF或采用專門的SPECTRO TurboQuant軟件，可輕而易舉的完成未知樣品的分析。SPECTRO XEPOS可搭載預制的應用軟件包。該應用軟件包括一套在出廠前就安裝和校正好的硬件和分析方法。適用于分析ROHS，廢渣，垃圾，油，水泥，爐渣等，SPECTRO XEPOS一機多用，是實至名歸的多功能分析儀器。